半導体リソグラフィシステムの世界的リーダーであるASMLは、新たな極端紫外線(EUV)リソグラフィ技術の開発を発表しました。この技術は、半導体製造の精度を大幅に向上させ、より微細で高性能なチップの製造を可能にすることが期待されています。

新型EUVリソグラフィシステムは最大1.5ナノメートルの解像度を実現でき、これは現世代のリソグラフィ装置と比べて大幅な向上です。この精度向上は半導体パッケージ材料に大きな影響を与えるでしょう。チップの小型化と複雑化が進むにつれ、これらの微小部品の安全な輸送と保管を確保するための高精度キャリアテープ、カバーテープ、リールの需要はますます高まっていくでしょう。
当社は、半導体業界におけるこうした技術進歩を注視し、ASMLの新しいリソグラフィー技術がもたらす新たな要件を満たすパッケージング材料の開発に継続的に投資し、半導体製造プロセスを着実にサポートしていきます。
投稿日時: 2025年2月17日